FA/JA-M 密度天平采用电磁力平衡力式传感器和单片微处理器系统，是在FA/JA基础上开发的一款集精确、稳定、多功能和自动化于一体的电子天平，尽量满足测验室密度测量及质量分析要求。只需在天平上配上密度测量组件，可以精确测量固体密度。更新时间：2023-02-16型号：访问次数：1888
现在联系
共 1 条记录，当前 1 / 1 页 首页 上一页 下一页 末页 跳转到第页
24小时咨询热线
0312-363595924小时咨询热线
0312-3635959现在联系
